带激光测量系统的通用长度测量仪器。
带水平基床的比较仪(高度同质、坚硬花岗石)
X 轴测量系统:干涉激光测量系统,长度 525 或 1115
mm
Z 轴测量系统:RENISHAW 增量,精密长度测量系统,长度 80 mm
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ULM 800 L-E |
设备尺寸 |
1500 x 380 x 480 |
外测量的测量范围 [mm] |
0 至 830 |
内测量的测量范围 [mm] |
0.5 至 670 |
直接测量范围 [mm] |
0 至 525 |
测量不确定性 MPEE1 (L in mm) [µm] |
≤ (0,1+L/2000) |
测量力 [N] |
0.2 ; 1.0 - 4.5 ; 11 |
可重复性 [µm] |
≤ 0,05 |
设备长度 [mm] |
1500 |
质量 [kg] |
220 |
校准
大量附件和模块化组件,可解决各种测量任务,包括以下测量: