元素范围  Ti22 to U92

镀层和元素数量  4 层镀层 + 底材可同时分析至多25种元素

X-ray激发  50 W (50kV, 1mA) 微聚焦型钨靶X射线管

X-ray探测器  封气（氙气）正比计数器

准直器  单准直器或多准直器（最多6个） ，圆形、正方形和矩形可选

二次滤波器  可配置至多3个滤波器（V、Co和Ni）用于重叠X射线波谱校正

数字信号处理器   4096多通道数字分析器 自动信号处理，带死时间修正及防脉冲累积功能

软件  SmartLink

FP语言：英语、中文（简体和繁体）、法语、德语、西班牙语、日语、韩语、

意大利语、捷克语和俄语 

计算机  CPU：Intel Core 2 Duo E7500 2.93GHz

硬盘： 500Gb，内存：2Gb

DVDRW

操作系统：Microsoft WindowsTM

注：由于计算机系统更新快速，实际配置等同或优于上述规格

电源  85~130 或 215~265 伏特，频率范围47Hz到63Hz

工作环境     10°C (50°F) 至 40°C (104°F)，相对湿度98%，无冷凝

可选配置  标准样品台（最大样品高度 33mm / 1.3”）

加深式样品台（最大样品高度 160mm / 6.3”）

XY 程控样品台（样品台移动行程：178mm x 178mm / 7” x 7”）

各样品台Z向移动行程：43mm (1.7”)

均为开槽式样品台

尺寸（宽 x 长 x 高）    标准样品台：407 x 770 x 305 mm (16 x 30.3 x 12")

加深式样品台：407 x 770 x 400 mm (16 x 30.3 x 15.7")

XY 程控样品台：610 x 1037 x 375 mm (24 x 40.8 x 14.8“)

 注：以上尺寸均不包含计算机和显示器

重量    97kg（不包含计算机和显示器）

应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定（如珠宝鉴定）等行业，完成单层或多层厚度测量。